Simcenter T3STER

Simcenter T3STER

Simcenter T3STER («Тристер») — это инновационный инструмент для провердения нестационарного теплового анализа, позволяющий получить тепловые характеристики полупроводниковых устройств (диодов, биполярных транзисторов, силовых МОП-транзисторов, IGBT, светодиодных модулей), а также многокристальных устройств. Тестирование компонентов можно выполнять без демонтажа. Наше решение собственной разработки состоит из программной и аппаратной части и предназначено для сферы полупроводников, транспортных систем, бытовой электроники и светодиодов.

Точное измерение переходной тепловой характеристики является намного более эффективным, чем измерение в установившемся режиме. Измерения производятся с точностью ±0,01° C и разрешением до 1 микросекунды и позволяют получить точные тепловые показатели. В ходе структурного анализа выполняется постпроцессинг характеристики, и результаты выводятся на график, отображающий тепловое сопротивление и теплоемкость компонентов по траектории теплового потока. Можно легко выявить любые структурные недостатки, например ненадежное крепление кристалла, и с легкостью обнаружить дострессовые и послестрессовые разрушения в ходе анализа надежности. Результаты измерений можно экспортировать для выполнения калибровки тепловой модели, что повышает точность теплового проектирования.