Системы электронной спекл-интерферометрии (ESPI) Q-300

Q-300 – измерения для испытаний материалов

Система 3D-ESPI Q-300 разработана для полного трехмерного высокочувствительного анализа перемещений и деформаций материалов и конструкций.

Количественный трехмерный анализ

Система Q-300 успешно использовалась при разработке и испытаниях сложных (анизотропных) материалов, деталей и конструкций в электронике, автомобильной промышленности и машиностроении. Она идеальна для экспериментального подтверждения аналитических и численных вычислений.
Трехмерная информация позволяет быстро определить свойства материалов (модуль Юнга, коэффициент Пуассона и т. п.).

Большой спектр применений

Система Q-300 использовалась в сложных испытаниях на растяжение, в исследованиях механики разрушения, испытаниях на изгиб, двухосных испытаниях, исследованиях ползучести металлов, измерениях термического расширения и при решении различных других задач.

Высокая точность

Полностью портативная камера Q-300 спроектирована симметрично со взаимно заменяемыми рукавами лазерной подсветки, чтобы можно было поддерживать различные базовые длины освещения и чувствительности. Таким образом, система может работать в 1-, 2- и 3-мерном режимах. Увеличивающие линзы позволяют настроиться на объекты различных размеров и геометрий. При использовании макро линз могут быть исследованы очень маленькие области.

Модульная конструкция для удобства применений

Камера должна быть присоединена таким образом, чтобы избежать относительного движения между образцом и камерой. По этой причине вниманию заказчика предлагаются различные крепежные устройства. Система Q-300 может использоваться на плоских и изогнутых поверхностях благодаря оптическому модулю контура. Камера контролируется прочно спроектированной электронной системой управления с полным пакетом программного обеспечения ISTRA. Оно позволяет проводить измерения в автоматическом или ручном режиме, количественный анализ данных трехмерных перемещений и полей деформаций.Достигается точность до микрометра с учетом различной чувствительности для различных координат объекта.