Измерительные испытательные системы
численное моделирование   /   шум вибрация давление
динамика потоков жидкости и газа
оборудование для краш испытаний   /  метрология
+ 7 (495) 799-90-92
+ 7 (495) 204-18-51
Каталог

Q-400 -микро система для измерения микро перемещений и деформаций


 2.jpg

Система Q-400 μDIC™:

измерение микроскопических форм, смещений и деформаций

Общее описание

Система Q-400 μDIC специально создана для измерения искривлений и тепловых расширений в сфере микроэлектроники и производства компонентов, когда требуется миниатюризация электроники и высокая плотность компоновки.

Если моделирование невозможно или его необходимо дополнить результатами эксперимента, данная система способствует точному измерению деформаций. Измерительная система Q-400 μDIC является комплексным решением, состоящим из стереомикроскопа, подсветки, блока нагрева/ охлаждения, видеокамеры 5 Мп и удобного программного обеспечения для проведения измерений.

Варианты применения

•     Измерение искривлений

•     Определение коэффициента теплового расширения

•     Проверка результатов анализа методом конечных элементов

•     Исследование микроэлектронных компонентов

Характеристики и особенности

•     Измерение трехмерных форм, деформаций и смещений

•     Оптический бесконтактный метод измерения

•     Быстрое и точное интерактивное наглядное представление результатов

•     Небольшие микроскопические образцы менее 17 x 17 мм2

•     Универсальная система с тепловой нагрузкой


 


 

Преимущества

Быстрая простая проверка результатов анализа методом конечных элементов и определение коэффициента теплового расширения возможны посредством сопоставления в реальном времени с субмикронной точностью изображений форм, деформаций и смещений. Простота и плавность настройки, фокусировки и калибровки позволяют сосредоточиться на действительно важном — измерение трехмерных искривлений, которое еще никогда не было таким простым.

Результаты

Система Q-400 μDIC позволяет выполнить простой и быстрый полномасштабный трехмерный анализ деформаций и смещений. В результате использования этой системы становятся доступны сведения о геометрии, деформациях и смещениях, временные и пространственные графики, сигналы тензодатчиков, обрабатываемые САПР данные формата STL, а также изображения и видеозаписи для целей представления.

Общие технические характеристики системы μDIC

Область измерения

Типичные области измерения размером 17 x 17 мм2 или меньше

Результаты измерений

Полномасштабный профиль поверхности, трехмерные смещения и деформации

Диапазон измерений

До 100 % смещений (несколько измерений одновременно)

Прецизионные калибровочные пластины

Диапазон от 0,5 х 0,5 мм2 до 2 х 2 мм2

Управляющая электроника

Приобретаемый отдельно настольный компьютер или ноутбук под управлением Windows 7, встроенный аналоговый вход для сбора и записи данных: 8 независимых настраиваемых аналоговых каналов сбора данных, разрешение 16 бит, размах амплитуды от ± 0,05 В до ± 10 В

Синхронизация с включением видеокамеры

2 аналоговых выхода для вывода данных (размах амплитуды ± 10 В)

Стереоскопический микроскоп

Диапазон увеличения: 8x ... 100x (объектив 1,0x, окуляры 10x)

Оптическая система с апохроматической коррекцией, встроенная ирисовая диафрагма для регулировки глубины резкости, параметры масштабирования при нажатии кнопки остановки, парфокальные планапохроматические объективы 0,63x, 1x, 1,6x, 2x, встроенная светодиодная кольцевая подсветка, скользящая площадка и т. д.

Чип сенсора

Доступны различные типы сенсоров до 16 Мп (стандартная комплектация – 5Мп)

Сведения о сенсоре

Скорость затвора: 47 мкс ... 67 с; частота кадров: до 60 Гц (регулировка области исследования)

Чувствительность измерения:

 

Смещение

Точность до 0,01 пикселя в зависимости от условий измерений

Деформация

До 0,01 % (локально)

Функциональные возможности программного обеспечения

•     Корреляция в реальном времени до 2 Гц

•     Неограниченный открытый формат данных для результатов измерений

•     Быстрая и простая процедура автоматической калибровки с обратной связью по точности

•     Результаты отображаются в виде трехмерной модели или двухмерного наложения

•     Доверительный интервал для каждой точки данных

•     Настраиваемая фильтрация результатов измерений и произвольное определение опорного уровня

•     Расширенные функции внешней и внутренней синхронизации

•     Удобный графический пользовательский интерфейс соответствует универсальным рекомендациям в отношении диалоговых окон и рамок

•     Доступны различные системы координат (дополнительно пользователь может определить собственную систему координат)

•     Расширенная функциональность экспорта и импорта (например, форматы STL, AVI, ASCII)

•     Удобная последующая обработка данных

•     Удобная визуализация и анализ динамики процессов

Дополнительные возможности

Различные сенсоры

Разрешающая способность и фокусное расстояние адаптированы к индивидуальным вариантам применения

Блок нагрева/охлаждения

Для микроскопического измерения коэффициента теплового расширения, искривления электронных компонентов и т. д.

Аналоговый выход

Получение результатов измерений в виде динамического напряжения

Дистанционная техническая поддержка

Обслуживание системы и дистанционная поддержка пользователей через Интернет


Назад